是一款全面強(qiáng)大的X射線熒光分析儀,能夠檢測(cè)各種大小的樣品,滿足鍍層厚度測(cè)量和材料分析。
元素光譜定性分析:精度高、穩(wěn)定性好.強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、處理功能.
隨著檢測(cè)零件的微小化,對(duì)微區(qū)的高精度測(cè)量的需求日益增多。并且,配備有新開(kāi)發(fā)的薄膜 FP 法軟件,即使沒(méi)有厚度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)也可進(jìn)行多達(dá)5層10元素的多鍍層和合金膜的測(cè)量,可對(duì)應(yīng)更廣泛的應(yīng)用需求。

 
	

 

 
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