X射線測厚儀是基于射線通過物質(zhì)時(shí),透過的射線強(qiáng)度,隨物質(zhì)的厚度不同而改變的原理制成的非接觸、透射式厚度測量裝置。美國博曼BA100,博曼膜厚測試儀高分辨硅-PIN-接收器,配合快速信號處理系統(tǒng)能達(dá)到極高的精確度和非常低的檢測限。只需短短數(shù)秒鐘,所有從13號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準(zhǔn)確測定.可測量:單一鍍層:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等,測量厚度可以至微米(um),微英寸(u”),
美國BOWMAN(博曼)X射線膜厚測試儀




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