點(diǎn)擊圖片查看大圖博曼膜厚測(cè)試儀對(duì)于鍍層：不僅可以測(cè)量其成分比例，還可以測(cè)量器厚度!
博曼膜厚測(cè)試儀可靠地測(cè)量Pb, Hg, Cd, Br及Cr元素。在塑料中可達(dá)到的測(cè)量下限Pb為2 ppm，對(duì)Cd為10 ppm.
RoHS / WEEE對(duì)Pb的限制為1000 ppm以及對(duì)Cd為100 ppm，儀器能可靠地予以驗(yàn)證。
塑料樣品可以不考慮其厚度而進(jìn)行準(zhǔn)確分析。
博曼膜厚測(cè)試儀即使是微小的電子元器件或印刷線路板上的鍍層系統(tǒng)也可以高精度地分析。
XY(Z)平臺(tái)可用來(lái)自動(dòng)掃描印刷線路板
鍍層測(cè)量?jī)x,電鍍測(cè)厚儀,膜厚測(cè)量?jī)x,金屬測(cè)厚儀,X射線測(cè)厚儀,無(wú)損測(cè)厚儀,鍍膜測(cè)厚儀,金鎳測(cè)厚儀,銅厚測(cè)量，我公司是博曼（bowman）儀器的大陸代理商，專業(yè)銷售：復(fù)合鍍層測(cè)厚儀、X射線元素分析儀、線路板銅厚測(cè)量?jī)x、合金分析儀、產(chǎn)品RoHS檢測(cè)儀，鍍層測(cè)量?jī)x,電鍍測(cè)厚儀,膜厚測(cè)量?jī)x,金屬測(cè)厚儀,X射線測(cè)厚儀,無(wú)損測(cè)厚儀,鍍膜測(cè)厚儀,金鎳測(cè)厚儀,銅厚測(cè)量?jī)x.
整體描述：
美國(guó)BOWMAN X-RAY 設(shè)備遵循 ASTM B568， DIN 50 987 和 ISO 3497 等國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，主 要基於鍍層厚度測(cè)量和材料分析的 X-射線系統(tǒng)。採(cǎi)用全新數(shù)學(xué)計(jì)算方法,採(cǎi)用 新的 FP (Fundamental
Parameter）強(qiáng)大的電腦功能 來(lái)進(jìn)行鍍層厚度的計(jì)算，在加強(qiáng)的軟體功能之下，簡(jiǎn)化了測(cè)量比較複雜鍍層的程式。
（1）、配置硬件革新：
采用半導(dǎo)體接收器，分辨率較傳統(tǒng)品牌比例接收品提高數(shù)倍,較傳統(tǒng)X-RAY精確度提高了50%以上， 在測(cè)試薄金（Au)方面表現(xiàn)更為突出。
（2）、超常保固期：2年（24個(gè)月），較其它品牌整機(jī)延長(zhǎng)一倍；
（3）、前沿的測(cè)量技術(shù)：所有產(chǎn)品均為美國(guó)原裝進(jìn)口，
超低的售價(jià)：相對(duì)于其它品牌同檔次的機(jī)型售價(jià)降低了50%
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